开关柜局放产生原因与测试技术

局部放电是指电气设备绝缘结构中某个区域内出现的放电现象，这种放电只是绝缘结构在该区域内被破坏，主绝缘并未发生贯穿性击穿，但若局部放电长期存在，在一定条件下可造成设备主绝缘电气强度的下降和损坏。绝缘结构中若存在局部电场较高(场强分布不均)，或制造工艺不完善、运行中绝缘有机物分解、固体绝缘受机械力作用发生开裂等原因形成缺陷，运行中的这些部位就容易出现绝缘击穿、发生局部放电。

现在高压开关柜局放测试技术主要为地电波（TEV）和超声波（AE）两种方法。